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半导体芯片在生产过程中不可避免地会出现残次品，但封装之后，其内部结构如有缺陷，无法直观检测和分拣出来。目前对于半导体的缺陷检测，大多是采取单机X光成像设备，用人工目检的方式进行抽检。